量子效率測試儀的使用方法與步驟

更新時間：2025-03-06 點擊次數：2270

　　量子效率測試儀可提供大面積的均勻光斑，比傳統積分球提供更強的光強，可以測量相機像素的量子效率以及整個芯片的相機參數。準直光學技術，提供半角1度的準直光，可以進行變角度CRA和CROSSTALK測試。利用分光技術，測量的波長范圍更可擴展到190 nm-2600 nm。是一高性能的傳感器綜合測試系統。

　　量子效率測試儀使用方法與步驟：

　　(1)：將待測CCD芯片和標準探測器，以及它們各自的驅動電路放置在暗室中，并調節測量系統各部分儀器的參數。打開光源的開關，使電流保證在8.4到8.6安，打開單色儀開關，打開皮安表開關和移動位移臺的開關。

　　(2)：通過上位機程序控制待測CCD芯片電子快門，調整CCD芯片的積分時間來控制CCD芯片的曝光時間和曝光量。(一般調好不用管)。

　　(3)：調節移動位移臺，將標準件調到和激光光斑重合處(目前大約41500)。

　　(4)：記錄皮安表的數值，查表，找出對應波長的數值，用皮安表的數值除以查表得出的值，得出功率值。(正好皮安對皮瓦)。

　　(5)：蓋住CCD相機的鏡頭，在CCD上位軟件上，連接設備，連續采圖，設置參數中輸入對應波長，功率值后。再單擊量子效率，完成暗圖像的采集。

　　(6)：調節移動位移臺，將CCD工業相機調到激光光斑重合處，(目前大約是回到原點)。

　　(7)：揭開CCD的鏡頭，讓激光光斑打到CCD上，在設置參數中輸入對應波長，功率值后，亮圖上打上對勾。再單擊量子效率，完成亮圖像的采集。

　　(8)：記錄量子效率的值。

　　(9)；在單色儀的上位軟件里，設定對應波長，波長從400nm-780nm。設置起始波長為400nm，每隔20nm，重復(3)到(8)步驟測一次量子效率的值。直到780nm為止。

　　(10)：繪制量子效率的曲線。