一、太陽(yáng)能電池QE/IPCE測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹
菲銳斯 PT-QEM800太陽(yáng)能電池QE/ IPCE測(cè)量系統(tǒng)提供一種用于測(cè)量外部量子效率(EQE )和內(nèi)部量子效率( IQE )中的AC斬波模式，這適合于大多數(shù)類型的電池。 QEM800可以用選項(xiàng)，允許用戶定制一個(gè)特殊的解決方案，滿足他們的個(gè)人工作需求QE測(cè)量進(jìn)行配置。
QEM800允許客戶以測(cè)量外量子效率(EQE )也稱為入射光子到電荷載流子的效率( IPCE )或量子效率(QE) ，以及內(nèi)部量子效率( IQE )的太陽(yáng)能電池，檢測(cè)器，或任何其他光子荷轉(zhuǎn)換裝置。標(biāo)準(zhǔn)QEM800報(bào)價(jià)適合斬波AC模式對(duì)于大多數(shù)樣品類型。
QEM800使用證明，太陽(yáng)能電池QE/ IPCE測(cè)量系統(tǒng)耐用的航標(biāo)燈組件提供交鑰匙解決方案，包括光源，光模塊，單色儀，校準(zhǔn)器，相關(guān)的電子模塊，軟件和PC在一個(gè)預(yù)先配置，組裝。
此外，在積分球附件可安裝其允許更精確的漫反射測(cè)量樣品的織構(gòu)化表面的IQE 。該系統(tǒng)的*設(shè)計(jì)符合美國(guó)ASTM方法E 1021至1006年規(guī)定的要求。附件可用于提供諸如樣品定位，溫度控制，真空吸附，電探測(cè)能力和光偏置裝置。
為客戶配置的其它功能或其他類型樣品的特殊需求，請(qǐng)與銷售工程師討論您的客戶應(yīng)用。
二、QE/IPCE測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品參數(shù)表
三、主要技術(shù)參數(shù)
整套系統(tǒng)為交鑰匙測(cè)試系統(tǒng)，*自動(dòng)化測(cè)試，符合ASTME1021-06和IEC60904-8國(guó)際測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)；
系統(tǒng)可測(cè)量各種硅基微結(jié)構(gòu)等等多功能光電材料及器件，包括Si類光電器件，納米線電池、a-Si、CIS-Cell、Multi-Cell、CdTe-multilayer、Tandem-cell、Mono-Cell、Organic-Cell、CIG-Cell、GaInP/GaAs/Ge、GaAs/CIS(thinfilm)、單晶、多晶硅、非晶微晶硅微納器件、多結(jié)疊層電池、聚能電池、染料敏化電池、新型鈣鈦礦電池、薄膜電池等等及其他有機(jī)或無機(jī)類光電器件或者探測(cè)器。
可測(cè)量各種探測(cè)器，包括紫外、可見、近中遠(yuǎn)紅外(選配)等各類探測(cè)器的光譜響應(yīng)；
系統(tǒng)測(cè)量各類樣品的表面吸收和反射，絕對(duì)光譜響應(yīng)、相對(duì)光譜響應(yīng)、絕對(duì)光譜漫反射、相對(duì)光譜漫反射、內(nèi)/外量子效率、絕對(duì)透過率、相對(duì)透過率、電流密度等的測(cè)試。
系統(tǒng)測(cè)試波長(zhǎng)范圍：300nm-1800nm；(200-2500nmOption)；
具備可測(cè)量材料的SPV表面光電壓譜測(cè)試功能；
測(cè)量電池面積：可調(diào)。最小面積小于0.01mm2；可測(cè)量納米線太陽(yáng)電池；0.01mm2-165x165mm2(或更大面積可選)；可擴(kuò)展為測(cè)量功率不小于200W的光伏電池組件；
手套箱測(cè)試功能：可以結(jié)合手套箱在真空環(huán)境或者帶壓力的保護(hù)氣體環(huán)境下測(cè)量光電材料的光譜響應(yīng)/光電轉(zhuǎn)換效率；
系統(tǒng)測(cè)試結(jié)果可重復(fù)性精度：≤0.15%(300–1800nm)、
雙光路設(shè)計(jì)，同時(shí)測(cè)量被測(cè)器件響應(yīng)電流和入射光強(qiáng)；計(jì)算機(jī)自動(dòng)掃描，波長(zhǎng)間隔用戶連續(xù)可調(diào)；
雜散光：<10-5；
波長(zhǎng)精度：<0.1nm；
系統(tǒng)帶有白光偏置光源；
AC交流測(cè)量模塊：美國(guó)斯坦福SR830Lock-inAmplifier；靈敏度:2nVto1V；電流輸入：10-6or10-8V/A；SR540Chopfrequency：0to3.7KHz；
DC直流測(cè)試模塊：KEITHLEY6數(shù)字多功能表；直流電流靈敏度:10nA;直流電壓靈敏度:100nV；電流最大量程：大于(包括)3A；
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試樣品臺(tái)。(可選的溫控真空吸附測(cè)試樣品臺(tái)尺寸:200*200mm;控溫范圍:-15-60℃;控溫準(zhǔn)確度:0.1℃；)
包含IQE內(nèi)量子效率測(cè)試模塊：4’’積分球、標(biāo)準(zhǔn)白板、專業(yè)測(cè)試夾具、標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器含NIST溯源的證書;IQE軟件等。
包含白光偏置及多結(jié)電池測(cè)試組件:多結(jié)電池測(cè)量偏置光源:3路；獨(dú)立控制,強(qiáng)度0～100%范圍內(nèi)可調(diào)；
電化學(xué)測(cè)試模塊(選配)；
近紅外光譜模塊；
惰性氣體模塊(選配)；
測(cè)試系統(tǒng)原理應(yīng)*符合IEC和ASTM關(guān)于太陽(yáng)電池量子效率測(cè)試的規(guī)范；
系統(tǒng)可擴(kuò)展為測(cè)量各種材料或器件的光致熒光特性；
系統(tǒng)可進(jìn)一步擴(kuò)展為各種發(fā)光材料的靜態(tài)和時(shí)間分辨光譜的測(cè)量平臺(tái)；
QE/IPCE測(cè)試系統(tǒng)軟件：用于測(cè)試樣品的光譜響應(yīng)、反射率、透射率、內(nèi)量子效率、外量子效率、IPCE、及電流密度等特性;繪制曲線并保存測(cè)試數(shù)據(jù)(支持excel、txt等文件類型);電腦控制：自動(dòng)掃描、電動(dòng)狹縫、光柵更換、濾光輪控制、數(shù)據(jù)采集;數(shù)據(jù)處理：光譜校準(zhǔn)、曲線繪制、數(shù)據(jù)分析、數(shù)據(jù)保存、打印報(bào)告。
產(chǎn)品型號(hào)：PT-QEM800
地址：北京市海淀區(qū)上地三街9號(hào)A座A912-156
郵箱：wangguobin210@163.com
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